EPK MIKROTEST測(cè)厚儀MIKROTEST G6
Mikrotest 6將經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的磁吸引測(cè)量原理與數(shù)字技術(shù)相結(jié)合。它提供高分辨率測(cè)量和易用性。
測(cè)量原理仍然是基于所有標(biāo)準(zhǔn)中定義的永磁體在鋼上的吸引力。麥考特測(cè)厚儀以模擬格式顯示測(cè)量，總是需要用戶的一定量的解釋，因?yàn)樵搩x器具有數(shù)字指示，這種解釋不再需要將測(cè)量?jī)x轉(zhuǎn)換成非常*的測(cè)量工具。當(dāng)測(cè)量薄涂層時(shí)，讀數(shù)以1或0.5微

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更新時(shí)間：2023-11-10
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EPK MIKROTEST測(cè)厚儀MIKROTEST G6

篤摯儀器代理的MikroTest G6采用磁性吸引原理來(lái)測(cè)量涂層，粉末涂層和電鍍涂層和電鍍?cè)阼F基底上的厚度。這個(gè)數(shù)字版本在這個(gè)平臺(tái)上具有的準(zhǔn)確性，真正是一個(gè)顯著的進(jìn)步。讀數(shù)電子控制和數(shù)字顯示，同時(shí)仍然保持I型量規(guī)分類。

EPK MIKROTEST測(cè)厚儀MIKROTEST G6

Mikrotest G6將經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的磁吸引測(cè)量原理與數(shù)字技術(shù)相結(jié)合。它提供高分辨率測(cè)量和易用性。

測(cè)量原理基于所有標(biāo)準(zhǔn)中定義的永磁體在鋼上的吸引力。麥考特測(cè)厚儀以模擬格式顯示測(cè)量，總是需要用戶的一定量的解釋，因?yàn)樵搩x器具有數(shù)字指示，這種解釋不再需要將測(cè)量?jī)x轉(zhuǎn)換成非常*的測(cè)量工具。當(dāng)測(cè)量薄涂層時(shí)，讀數(shù)以1或0.5微米的步長(zhǎng)顯示，儀器還可以高精度測(cè)量高厚度值。由于所有量規(guī)都在出廠預(yù)設(shè)，以便在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)獲得zui高的測(cè)量值精度，因此無(wú)需校準(zhǔn)。

特征：
經(jīng)驗(yàn)證的測(cè)量原理。無(wú)需校準(zhǔn)。高分辨率的測(cè)量值。。測(cè)量范圍可達(dá)15mm。數(shù)字顯示。I型量規(guī)分類。0至12密耳范圍。以單位，密爾和公制讀取。08 mils±3％的讀數(shù)。040所需的zui小基礎(chǔ)厚度。使用一個(gè)6伏電池

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