測厚儀Mintest 3100膜厚測試儀華東區(qū)總代理的特點(diǎn)：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；所有型號均可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)；可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2023-11-07
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產(chǎn)品詳情

Mintest 3100膜厚測試儀華東區(qū)總代理

可選探頭
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
文章鏈接：中國化工儀器網(wǎng) http://www.chem17.com/company_news/Detail/246525.html
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)

　　所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
　　F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
　　N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
　　FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑	zui小測量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸 (mm)
磁感應(yīng) 法	F05	0-500um	0.1um	±(1%±0.7um)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62
	F1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F3	0-3000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F10	0-10mm	5um	±(1%±10um)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46
	F20	0-20mm	10um	±(1%±10um)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66
	F50	0-50mm	10um	±(3%±50um)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70
兩用	FN1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
	FN1.6P	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面	30mm	F0.5mm/N50um	φ21x89
	FN2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
電渦流法	N02	0-200um	0.1um	±(1%±0.5um)	1/10mm	2mm	50um	φ16x70
	N.08Cr	0-80um	0.1um	±(1%±1um)	2.5mm	2mm	100um	φ15x62
	N1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	2mm	50um	φ15x62
	N1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	50um	φ15x62
	N2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N10	0-10mm	10um	±(1%±25um)	25/100mm	50mm	50um	φ60x50
	N20	0-20mm	10um	±(1%±50um)	25/100mm	70mm	50um	φ65x75
	N100	0-100mm	100um	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50um	φ126x155
	CN02	10-200um	0.2um	±(1%±1um)	平面	7mm	無限制	φ17x80

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度
	FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層
	F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(O.1μm)
	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭可用于較厚的覆層
	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測量
	F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等