德國(guó)EPK代理MiniTest 720測(cè)厚儀采用了良好的SIDSP技術(shù)：
由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無(wú)需特別在基體上校準(zhǔn)器。

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產(chǎn)品詳情

德國(guó)EPK代理MiniTest 720測(cè)厚儀

德國(guó)EPK代理MiniTest 720測(cè)厚儀
SIDSP探頭良好技術(shù)：

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測(cè)量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測(cè)量原理	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號(hào)處理	探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測(cè)量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度	每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下zui大測(cè)量速度	每分鐘70個(gè)讀數(shù)

：MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀

-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性

-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)

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