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庫(kù)倫法菲希爾測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP庫(kù)倫法菲希爾測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP，F(xiàn)ISCHER測(cè)厚儀，庫(kù)侖法測(cè)厚（陽(yáng)極溶解）：依據(jù)法拉第定律，通過(guò)電解剝離鍍層，精確計(jì)算電流與時(shí)間的積分，換算出鍍層厚度，符合 DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)。
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL220菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XUL220菲希爾X射線，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XUL 220 是德國(guó) Helmut Fischer 公司推出的一款入門級(jí)、能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測(cè)厚儀，主打高精度、無(wú)損、微區(qū)測(cè)量，廣泛用于電子、電鍍、五金等行業(yè)的質(zhì)量控制。
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菲希爾X射線XULM測(cè)厚儀適用領(lǐng)域特點(diǎn)菲希爾X射線XULM測(cè)厚儀適用領(lǐng)域特點(diǎn) 適合測(cè)量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)約100μｍ，同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對(duì)高的計(jì)數(shù)率。
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菲希爾X射線熒光測(cè)厚儀XUL小型臺(tái)式菲希爾X射線熒光測(cè)厚儀XUL小型臺(tái)式 射線管出射點(diǎn)稍大，非常適合測(cè)量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用
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菲希爾Fischer測(cè)厚儀XUL220/X射線菲希爾Fischer測(cè)厚儀XUL220/X射線 x射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度及分析材料成分
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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾X射線，F(xiàn)ISCHER X射線測(cè)厚儀，菲希爾鍍層測(cè)厚儀。
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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN500，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER測(cè)厚儀，菲希爾X射線測(cè)厚儀
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Fischer菲希爾DualScope FMP20膜厚儀測(cè)厚儀Fischer菲希爾DualScope FMP20膜厚儀測(cè)厚儀 DualScope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀 能夠測(cè)量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導(dǎo)電材料上的許多涂層。根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用，您可以根據(jù)磁感應(yīng)法，渦流法或根據(jù)兩種方法組合在一臺(tái)儀器中進(jìn)行的涂層厚度測(cè)量。
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