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MiniTest 7400FH壁厚測(cè)厚儀進(jìn)口經(jīng)銷商 EPK便攜式MiniTest 7200/7400 FH測(cè)量系統(tǒng)專為非破壞性厚度測(cè)量而設(shè)計(jì)，適用于現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室使用。 根據(jù)磁靜電原理，儀表可以快速方便地對(duì)非鐵磁材料進(jìn)行測(cè)量。專業(yè)的壁厚測(cè)量裝置，用于無(wú)損測(cè)量，可達(dá)24 mm。 這些器件適用于玻璃，合成材料，不銹鋼和復(fù)合材料等非磁性材料的厚度測(cè)量，甚至可以測(cè)量復(fù)雜的部件幾何形狀。

GALVANOTEST 2000電化學(xué)去鍍測(cè)厚儀一級(jí)代理 GALVANOTEST 2000測(cè)厚儀根據(jù)DIN 50955 / ISO 2177的庫(kù)侖電鍍或電化學(xué)去鍍技術(shù)適用于實(shí)際上所有基材上的電鍍涂層的測(cè)量，即：在鋼，有色金屬和絕緣材料上的測(cè)量。 鋼上的鎳，鋼上的鋅，銅上的錫，銅上的銀和環(huán)氧樹脂上的銅。 該方法也適用于測(cè)量多層系統(tǒng)的各種涂層，例如鋼上銅上的鎳鉻。

MIKROTEST G6涂層測(cè)厚儀-無(wú)需電源和校準(zhǔn) 涂層厚度測(cè)量所有非磁性涂層的鍍層厚度（如涂料，粉末涂料，塑料，鋅，銅，錫）。測(cè)量范圍：0-100μm。讀數(shù)精度：讀數(shù)為1μm或5％。 MIKROTEST G6涂層厚度計(jì)，涂層厚度計(jì)McCourt G6特點(diǎn)： 不會(huì)自動(dòng)測(cè)量誤用 易于掌握并具有非常高的準(zhǔn)確性 無(wú)校準(zhǔn)，配置，測(cè)試簡(jiǎn)單 不需要電池或其他電源 自動(dòng)報(bào)告讀數(shù)的厚度

FH7400霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀加強(qiáng)版（顯示和統(tǒng)計(jì)） ElektroPhysik FH7400-4精密磁性薄壁測(cè)厚儀，增強(qiáng)顯示和統(tǒng)計(jì)功能，帶FH4探頭的完整套件，范圍0.00 - 0.16“是一種便攜式厚度測(cè)量裝置，可測(cè)量厚度達(dá)10 mm的材料。 該設(shè)備的尺寸和便攜性使其能夠在生產(chǎn)區(qū)域和質(zhì)量實(shí)驗(yàn)室中運(yùn)行。FH系列可以對(duì)所有類型的有色金屬產(chǎn)品進(jìn)行簡(jiǎn)單，無(wú)損和高度的厚度測(cè)量，無(wú)論其尺寸，形狀和材料

GALVANOTEST 3000測(cè)厚儀提供額外方便 篤摯儀器現(xiàn)貨代理！涂層厚度測(cè)量?jī)x器系列GalvanoTest 2000/3000由ElektroPhysik Dr. Steingroever GmbH＆Co. KG制造。 良好的2000和3000具有功能和實(shí)用的厚度計(jì)，其操作在庫(kù)侖原理上，用于測(cè)量金屬或非金屬基底上的所有類型的電鍍單層或多層涂層由鉻，鎳，黃銅，銀等制成。 測(cè)量范圍為0.05至

QUINTSONIC 7-EPK發(fā)布袖珍超聲波測(cè)厚儀 QuintSonic 7是由ElektroPhysik制造的厚度測(cè)量計(jì)。 該設(shè)備用于油漆和漆的無(wú)損涂層厚度測(cè)量。 它還可以在金屬上的塑料，木材，玻璃，陶瓷或聚合物涂層上的其他絕緣涂層上起作用。 本機(jī)配有100ml甘油偶合劑，4節(jié)AA電池，操作手冊(cè)和塑料手提箱。

Elektrophysik涂層測(cè)厚儀智能藍(lán)牙傳感器SmarTest SmarTest是用于無(wú)損涂層厚度測(cè)量的智能無(wú)線傳感器，并通過(guò)藍(lán)牙將傳感器數(shù)據(jù)傳輸?shù)狡桨咫娔X，智能手機(jī)或涂層厚度計(jì)MiniTest 745。無(wú)線電傳感器SmarTest的直徑為16 mm，長(zhǎng)度為125 mm，重量?jī)H為48 g。這意味著您可以隨身攜帶SmarTest。舒適的應(yīng)用程序現(xiàn)在可以將智能手機(jī)和平板電腦轉(zhuǎn)化為有效的評(píng)估和

FH7200測(cè)厚儀Elektrophysik可移動(dòng)便攜裝置 MiniTest 7200 FH/7400 FH測(cè)量系統(tǒng)由便利的傳感器組成，通過(guò)電纜連接到基座和顯示單元，用于顯示和處理讀數(shù)。 對(duì)于測(cè)量，使用由鐵磁材料制成的特殊處理的靶球作為參考。 為了測(cè)量，將目標(biāo)球放置在待測(cè)量的材料上，以便測(cè)量目標(biāo)球和傳感器之間的材料厚度。 測(cè)量系統(tǒng)配有傳感器支架（可選），可在測(cè)量過(guò)程中增加額外的舒適度。