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更新時間：2025-12-25 
瀏覽次數(shù)：341FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是德國 Helmut Fischer 公司開發(fā)的入門級 X 射線熒光 (XRF) 測量儀器，專為珠寶、錢幣和貴金屬的無損分析及鍍層厚度測量設(shè)計(jì)，性價(jià)比高，操作簡便。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215核心特點(diǎn)
參數(shù)詳情
探測器Silicon PIN 二極管 (經(jīng)濟(jì)高效型)
X 射線管微聚焦鎢陽極
測量范圍氯 (17) 至鈾 (92) 的元素
測量時間約 15 秒 (一鍵操作)
軟件WinFTM®(支持 15 種語言)
分析功能貴金屬成分分析、鍍層厚度測量
校準(zhǔn)內(nèi)置校準(zhǔn)，無需標(biāo)準(zhǔn)樣品
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215工作原理
XAN215 通過X 射線激發(fā)樣品，使其產(chǎn)生特征熒光輻射。儀器捕捉并分析這些輻射的能量和強(qiáng)度，從而確定樣品中元素的種類和含量，實(shí)現(xiàn)無損成分分析和鍍層厚度測量。
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