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泰勒霍普森輪廓儀LUPHOScan HD 信息
更新時間：2025-10-15 點擊次數(shù)：623次
LUPHOScan HD 輪廓儀核心特點
1. 測量原理
基于 多波長干涉技術（MWLI®）
非接觸式干涉掃描，適用于高精度表面形貌重建
2. 適用對象
旋轉對稱表面，包括：
非球面（aspheres）
球面（spheres）
平面（flats）
自由曲面（freeforms，需具備旋轉對稱性）
特別適合 手機鏡頭模具、大口徑光學元件、陡峭曲面 等挑戰(zhàn)性工件
3. 技術優(yōu)勢
超高坡度容忍度：可測量 高達90°的表面坡度，適用于極陡或深凹結構
材料普適性：支持 透明、鏡面、不透明、拋光或研磨表面，無需特殊涂層
性能指標
高速測量：大幅縮短檢測周期，提升產(chǎn)線效率
極低系統(tǒng)噪聲：確保亞納米級測量穩(wěn)定性
重復性：Power（低頻誤差）與 PV（峰谷值）參數(shù)高度穩(wěn)定，適合工藝控制與質量追溯
環(huán)境魯棒性：系統(tǒng)結構堅固，對溫度波動、振動等環(huán)境干擾不敏感
典型應用場景
光學鏡頭（尤其是手機、車載、AR/VR 鏡頭）模具檢測
大口徑天文鏡、激光系統(tǒng)非球面鏡制造
精密光學元件研發(fā)與量產(chǎn)質量控制
自由曲面光學（如照明、投影系統(tǒng)）的原型驗證
