LUPHOScan HD 輪廓儀核心特點(diǎn)

1. 測(cè)量原理

基于 多波長(zhǎng)干涉技術(shù)（MWLI®）

非接觸式干涉掃描，適用于高精度表面形貌重建

2. 適用對(duì)象

旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面，包括：

非球面（aspheres）

球面（spheres）

平面（flats）

自由曲面（freeforms，需具備旋轉(zhuǎn)對(duì)稱性）

特別適合 手機(jī)鏡頭模具、大口徑光學(xué)元件、陡峭曲面 等挑戰(zhàn)性工件

3. 技術(shù)優(yōu)勢(shì)

超高坡度容忍度：可測(cè)量 高達(dá)90°的表面坡度，適用于極陡或深凹結(jié)構(gòu)

材料普適性：支持 透明、鏡面、不透明、拋光或研磨表面，無需特殊涂層

性能指標(biāo)

高速測(cè)量：大幅縮短檢測(cè)周期，提升產(chǎn)線效率

極低系統(tǒng)噪聲：確保亞納米級(jí)測(cè)量穩(wěn)定性

重復(fù)性：Power（低頻誤差）與 PV（峰谷值）參數(shù)高度穩(wěn)定，適合工藝控制與質(zhì)量追溯

環(huán)境魯棒性：系統(tǒng)結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，對(duì)溫度波動(dòng)、振動(dòng)等環(huán)境干擾不敏感

典型應(yīng)用場(chǎng)景

光學(xué)鏡頭（尤其是手機(jī)、車載、AR/VR 鏡頭）模具檢測(cè)

大口徑天文鏡、激光系統(tǒng)非球面鏡制造

精密光學(xué)元件研發(fā)與量產(chǎn)質(zhì)量控制

自由曲面光學(xué)（如照明、投影系統(tǒng)）的原型驗(yàn)證